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Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统

2016-03-18

硬体设备
半自动 LED wafer/chip 点测设备
漏电流测试模组
电源量测单元
光学测试模组
ESD 测试模组 (选配)
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中,常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。然而,传统的方式存在 一些缺点,例如:准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等,以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。
致茂研发出一种全新、高速且高精确度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种创新的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明显的改善提升了量测精确度。
在光学量测方面,主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得精确且稳定 快速之数据;在机构方面,58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座,提供使用者一个完整 的校正与测试平台;在电性测试方面,58173 则 具备完整之电源量测单元,无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性,均可于一 次满足使用者的测试需求。z6尊龙凯时·(中国)官方网站作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理,以下为z6尊龙凯时·(中国)官方网站为您简单介绍Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统的技术参数及产品特点,如果您想对Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统有更多的了解,欢迎致电z6尊龙凯时·(中国)官方网站,联系电话:0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击:1000qsw.com。z6尊龙凯时·(中国)官方网站。
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统图片
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统主要特色:
Chroma Model 58173 LED 全光通量自动测试系统提供全方位电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试
Chroma大面积光侦测器(量测角度可达128度)
半自动精密LED wafer/chip点测设备
特制Edge Sensor具有点测针压稳定,无疲乏与针压变动问题
机械视觉定位系统,缩短人工操作时间
自动抽测功能
弹性调整的软体操作界面
快速芯片扫描系统
自动破片扫描演算法
遮光罩设计,杜绝背景光干扰
即时显示点测资料分布图
完善的量产测试统计报表及分析工具

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